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第969章 5n工艺试生產（第3页）

“先测第一片。”

李家辉站在探针台旁，盯著屏幕。

工程师將晶圆放到设备上，探针缓缓落下，接触到晶片引脚。

屏幕上的数据开始跳动。

功能测试、功耗测试、算力测试，一项项跑过去。

“第一颗，正常。”

“第二颗，正常。”

“第三颗，算力不达標，废片。”

李家辉的情绪並没有任何变化。

测晶圆就是这样，一颗好一颗坏，心臟跟著数据起起落落。

一片晶圆上有几百颗晶片，要一颗颗测完，才能算出准確的良率。

如果一颗坏片就生气，那他估计活不到60岁……

时间一分一秒过去。

车间里只有测试设备还在工作，其他人都在祈祷，希望良品率高一点。

第一片晶圆测完。

工程师抬头，声音带著点激动：“李院士，第一片良率49%！”

李家辉悬著的心落了一半，良品率还算不错，但比他保守估计的50%差了一点，幸好没在沈总面前说大话。

不过这也算好的了，差距不大。

“继续测。”

李家辉有了底之后，这个工作就交给了其他人，三个小组同步进行，结果出来的很快。

第二片，53%。

第三片，57%。

第四片，58%。

一片接一片，数据陆续出来，李家辉脸上的神色越来越松。

但此刻他觉得自己像个倒霉蛋，毕竟其他人的良品率都比他高，难道他最近有点霉运缠身，不適合搞这些东西？

不过他没有多想，因为测到第十五片的时候，他已经能大概算出整体水平。

稳在55%上下，比他预想的最好结果还要好。